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贴片电容寿命测试方法与检测指标

贴片电容的寿命有两层含义,其一是老化寿命,其二是使用寿命。
贴片电容的老化寿命一般没有多大实际意义。一颗电容即便生产出来很多年,也一样可以正常使用。这个和晶振不太一样。当然如果仓储环境达不足,出厂时间久的贴片电容端电极有可能老化,导致焊接性能下降。因此原则应该购买出厂一年以内的产品。

风华高科对贴片电容的使用寿命一般采用如下方式进行测试:
贴片电容
1、测试方法
1.1 、低压贴片电容(≤100V)
电压:1.5 倍额定工作电压
时间:1000 小时
温度:125℃(NPO、X7R) 85℃(X5R、 Y5V)
充电电流:不应超过50mA
放置条件:室温
放置时间:24 小时(Ⅰ类),或48 小时(Ⅱ类),

1.2、中高压贴片电容
100V≤额定电压<500V:2 倍工作电压
500V≤额定电压≤1000V:1.5 倍工作电压
额定电压>1000V:1.2 倍工作电压
时间:1000 小时
充电电流:不应超过50mA
温度:125℃(NPO X7R);85℃(X5R、Y5V)
放置条件:室温
放置时间:24 小时(Ⅰ类),或48小时(Ⅱ类)
 
2、测试标准:
ΔC/C
Ⅰ类:≤±2%或±1pF 取两者之中较大者
Ⅱ类:B,X: ≤±20% ;E,F: ≤±30%

ΔC/C:
Ⅰ类:≤±2%或±1pF取两者之中较大者
Ⅱ类:B,X: ≤±20%;E,F: ≤±30%
DF:
≤2 倍初始标准

IR
Ⅰ类:Ri≥4000MΩ或 Ri• CR≥40S 取两者之中较小者.
Ⅱ类:Ri≥2000MΩ或 Ri• CR≥50S 取两者之中较小者.

外观
无损伤

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